北创光电-弧边小孔透过率光谱分析仪- BCSP-III/T-是一套全新推出针对手机面板小孔透过率检测

光学弧边小孔透过率光谱分析仪基本介绍
 BCSP-III/T是一套全新推出针对手机面板小孔透过率检测，能高效，快速，稳定的测量各类手机面板透过率，可根据客户要求定制软件，适用于批量性检测产品。
光学弧边小孔透过率光谱分析仪性能特点
1、人性化的移动平台和积分球补光设计，能实现产品的快速切换与测量。
2、数据保存方便快捷，实现品质的轻松追溯。
3、检测区域可视化，监控画面清晰，缓解作业疲劳。
名称：   弧边小孔透过率光谱分析仪型号：BCSP-III/T 检测范围：380-1100nm波长分辨率：1nm信噪比：500:1杂散光：0.05%@600nm      0.02%@400nm？相对检测误差：<0.06%@550nm测定方法：参比空气透过率
重复性：±0.3%（380-500nm）

             ±0.05%(500-800nm)

             ±0.3%(800-1100nm)

单次测量时间：<1s波长精度：<1nm物镜：5*1支设备重量：约30kg（光源外置）设备尺寸：300(W)*550(D)*570（H）nm使用环境：水平且无振动的场所温度：23±5摄氏度湿度：60%以下，无结露