北创光电-透过率光谱分析仪-sp-tp-是一套专门为检测光学组件透过率而设计开发的

光学透过率光谱分析仪基本介绍
透过率光谱分析仪：是一套专门为检测光学组件透过率而设计开发的，目前越来越多的光学元件对透过率的要求越来越高，部分元件在加工过程中甚至要全检透过率来控制产品品质。sp-tp能快速准确地测量各类平面、球面光学元件的透过率，可实时显示单、多点波长透过率数据及波段平均透过率的值和小值等数据。
光学透过率光谱分析仪性能特点
1、单次测量速度20ms内，能快速连续测量，被测物在测量平台上可以快速移动。  
    
  2、外界光影响微小。  
    
  3、全新软件，轻松实现数据管理。  
    
  4、操作方便快捷，适合大批量产品的检测。
光学透过率光谱分析仪技术参数
名称：                  透过率光谱分析仪
型号：                SP-TP-I                               SP-TP-II                                     
 检测范围：        380-1000nm                   380-1100nm
信噪比：             250:1                                    450:1
波长分辨率：   0.2-1nm                             0.2-1nm
相关检测误差：<0.5%（400-800nm）        <0.2%(400-800nm)
测量方法：参比空气透过率
单次测量时间：<50ns                                   <50ns  
波长精度：      <1nm                                   <1nm
被测物尺寸：直径3nm                                 直径3nm
重复性：
±0.2% （380nm-450nm）

±0.05% (450nm-800nm)

±0.2% (800nm-1100nm)

其它：可自定仪打印报告格式，自动判定合格与不合格，适用于批量检测
光学透过率光谱分析仪使用说明
1、快速检测，适用于批量产品检测

2、规定设定，适用于批量检测时快速判定